Line: 1 to 1 | |||||||||||||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | |||||||||||||||||||||||||||
Line: 87 to 87 | |||||||||||||||||||||||||||
FE-I4B Wafers at Edinburgh
| |||||||||||||||||||||||||||
Changed: | |||||||||||||||||||||||||||
< < |
| ||||||||||||||||||||||||||
> > |
| ||||||||||||||||||||||||||
FE-I4B Wafers at RAL
| |||||||||||||||||||||||||||
Added: | |||||||||||||||||||||||||||
> > |
Tested FE-I4B Wafers
| ||||||||||||||||||||||||||
FE-I4B Probe Card |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Line: 81 to 81 | ||||||||
| ||||||||
Changed: | ||||||||
< < |
| |||||||
> > |
| |||||||
FE-I4B Wafers at Edinburgh | ||||||||
Line: 95 to 95 | ||||||||
FE-I4B Wafers at RAL
| ||||||||
Changed: | ||||||||
< < |
| |||||||
> > |
| |||||||
FE-I4B Probe Card |
Line: 1 to 1 | |||||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | |||||||||||||||||||
Line: 55 to 55 | |||||||||||||||||||
FE-I4A Wafers at Glasgow
| |||||||||||||||||||
Changed: | |||||||||||||||||||
< < |
| ||||||||||||||||||
> > |
| ||||||||||||||||||
FE-I4A Wafers at Edinburgh
| |||||||||||||||||||
Line: 65 to 69 | |||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||
Added: | |||||||||||||||||||
> > |
| ||||||||||||||||||
FE-I4B Wafers at Glasgow
| |||||||||||||||||||
Changed: | |||||||||||||||||||
< < |
| ||||||||||||||||||
> > |
FE-I4B Wafers at Edinburgh
FE-I4B Wafers at RAL
| ||||||||||||||||||
FE-I4B Probe Card |
Line: 1 to 1 | |||||||||||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | |||||||||||||||||||||||||
Line: 52 to 52 | |||||||||||||||||||||||||
* FE-I4_summary_backhaus.pdf: FE-I4A Summary | |||||||||||||||||||||||||
Changed: | |||||||||||||||||||||||||
< < | FE-I4B Wafer Probing at Glasgow | ||||||||||||||||||||||||
> > | FE-I4A Wafers at Glasgow | ||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||
Changed: | |||||||||||||||||||||||||
< < |
| ||||||||||||||||||||||||
> > |
FE-I4A Wafers at Edinburgh
FE-I4B Wafers at Glasgow
| ||||||||||||||||||||||||
FE-I4B Probe Card |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Line: 58 to 58 | ||||||||
| ||||||||
Changed: | ||||||||
< < |
| |||||||
> > |
| |||||||
FE-I4B Probe Card |
Line: 1 to 1 | |||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | |||||||||
Line: 55 to 55 | |||||||||
FE-I4B Wafer Probing at Glasgow
| |||||||||
Added: | |||||||||
> > |
| ||||||||
FE-I4B Wafer Probing Reports from University of Bonn |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Line: 52 to 52 | ||||||||
* FE-I4_summary_backhaus.pdf: FE-I4A Summary | ||||||||
Added: | ||||||||
> > | FE-I4B Wafer Probing at Glasgow
| |||||||
FE-I4B Wafer Probing Reports from University of Bonn* WaferProbingSetupFEI4b.pdf: FE-I4B Wafer Probing Setup |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Line: 23 to 23 | ||||||||
| ||||||||
Added: | ||||||||
> > |
| |||||||
Fourth probe card ordered 21 Jan 2013 |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Line: 24 to 24 | ||||||||
| ||||||||
Added: | ||||||||
> > | Fourth probe card ordered 21 Jan 2013 | |||||||
Procedure for adding a Probe Station to STControl
|
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Line: 39 to 39 | ||||||||
| ||||||||
Added: | ||||||||
> > | Wafer statistics are here | |||||||
Reports* Wafer_Probing_info_for_Bonn.pdf: Die Probing Setup at Glasgow |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Line: 36 to 36 | ||||||||
| ||||||||
Added: | ||||||||
> > |
| |||||||
Reports |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Line: 24 to 24 | ||||||||
| ||||||||
Added: | ||||||||
> > | Procedure for adding a Probe Station to STControl
| |||||||
Reports* Wafer_Probing_info_for_Bonn.pdf: Die Probing Setup at Glasgow |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Added: | ||||||||
> > |
The following modifications should be made to the Probe Card
| |||||||
| ||||||||
Line: 11 to 22 | ||||||||
| ||||||||
Added: | ||||||||
> > |
| |||||||
Reports |
Line: 1 to 1 | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Wafer Probing InfoNotes | ||||||||
Line: 15 to 15 | ||||||||
Reports* Wafer_Probing_info_for_Bonn.pdf: Die Probing Setup at Glasgow | ||||||||
Changed: | ||||||||
< < | FE-I4 Probing Reports from University of Bonn | |||||||
> > |
FE-I4A Wafer Probing Reports* FE-I4_summary_backhaus.pdf: FE-I4A SummaryFE-I4B Wafer Probing Reports from University of Bonn | |||||||
* WaferProbingSetupFEI4b.pdf: FE-I4B Wafer Probing Setup | ||||||||
Line: 26 to 31 | ||||||||
| ||||||||
Added: | ||||||||
> > |
|
Line: 1 to 1 | |||||||||||||||
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Added: | |||||||||||||||
> > |
Wafer Probing InfoNotes
PTSL Probe Cards
Reports* Wafer_Probing_info_for_Bonn.pdf: Die Probing Setup at GlasgowFE-I4 Probing Reports from University of Bonn* WaferProbingSetupFEI4b.pdf: FE-I4B Wafer Probing Setup * WaferProbingTalkFEI4B_DavidPohl-2.pdf: FE-I4B Wafer Probing -- AndrewStewart - 2012-05-17
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